失效分析
2019-12-25
概述 表面裂紋的定義： 縫中原子結(jié)合遭到破壞,形成新的界面而產(chǎn)生的縫隙稱為裂紋。 裂紋的分類 根據(jù)裂紋尺寸大小，分為三類:(1)宏觀裂紋:肉眼可見(jiàn)的裂紋。(2)微觀裂紋:在顯微鏡下才能發(fā)現(xiàn)。(3)超顯微裂紋:在高倍數(shù)顯微鏡下才能發(fā)現(xiàn),一般指晶間裂紋和晶內(nèi)裂紋。 …
2019-12-25
掃描電鏡與能譜分析掃描電鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀性貌觀掃描電子顯微鏡察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)是，①有較高的放大倍數(shù)，20-20萬(wàn)倍之間連續(xù)可調(diào)；②有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀…
2019-12-25
概述X-ray透視掃描是一種無(wú)損檢測(cè)方式，當(dāng)無(wú)法采取破壞方式檢查產(chǎn)品內(nèi)部狀態(tài)的情況時(shí)，x射線掃描就顯得極為重要。對(duì)于很多高新電子元器件，表面的檢測(cè)已無(wú)法滿足產(chǎn)品檢測(cè)要求。并且由于產(chǎn)品內(nèi)部電子電路的連接短路斷路不可直接觀測(cè)，所以高性能的X射線實(shí)時(shí)檢測(cè)顯得尤為重要。針…
2019-12-21
俄歇電子能譜分析（AES） X射線分析 (X-ray) 金相切片分析 (Metallographic) SEM和EDS分析 (SEM&EDS) 激光共聚焦顯微拉曼光譜分析 (Micro Raman spectroscopy) X射線衍射分析（XRD） 顯微傅里葉紅外光譜分析 (FTIR) 聲學(xué)掃描分析（C-SAM） 透視電子顯微鏡（TEM） X射線熒光…
2019-12-21
非金屬構(gòu)件類失效分析 非金屬材料技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì)是高性能化、高功能化、復(fù)合化、智能化和綠色化。因?yàn)榧夹g(shù)的全新要求和產(chǎn)品的高要求化，而客戶對(duì)高要求產(chǎn)品及工藝?yán)斫獠灰唬谑欠墙饘俨牧蠘?gòu)件斷裂、開(kāi)裂、腐蝕、變色等之類失效頻繁出現(xiàn)，常引起供應(yīng)商與用戶間的責(zé)任糾紛，…
2019-12-21
概述 失效分析是對(duì)已失效的產(chǎn)品進(jìn)行的一種事后分析工作，通過(guò)使用各種測(cè)試分析技術(shù)和分析程序確認(rèn)產(chǎn)品的失效現(xiàn)象，分辨其失效模式或機(jī)理，確定其最終原因，提出改進(jìn)設(shè)計(jì)和制造工藝的建議，來(lái)消除失效并防止失效的再次發(fā)生，提高元器件可靠性，它是產(chǎn)品可靠性工程的一個(gè)重要…
2019-12-21
概述 隨著科學(xué)技術(shù)和工業(yè)生產(chǎn)的迅速發(fā)展，人們對(duì)機(jī)械零部件的質(zhì)量要求也越來(lái)越高。材料質(zhì)量和零部件的精密度雖然得到很大的提高，但各行業(yè)中使用的機(jī)械零部件的早期失效仍時(shí)有發(fā)生。通過(guò)失效分析，找出失效原因，提出有效改進(jìn)措施以防止類似失效事故的重復(fù)發(fā)生，從而保證工…
2019-12-14
生活中最常見(jiàn)的燈就是LED燈，但是很少有人知道LED燈需要LED驅(qū)動(dòng)器，近幾年從事LED制造、和研發(fā)的人員大大增加。LED企業(yè)亦如雨后春筍般成長(zhǎng)。由于從事LED驅(qū)動(dòng)研發(fā)的企業(yè)和人眾多，其技術(shù)水平參差不齊，研發(fā)出來(lái)的LED驅(qū)動(dòng)電路質(zhì)量好壞不一。下面小編帶領(lǐng)大家來(lái)了解LED驅(qū)動(dòng)的相關(guān)…